常用的平板平面度檢定方法有兩大類:直接測(cè)量法和間接測(cè)量法。
直接測(cè)量法是直接獲得平面各點(diǎn)偏差值或直接評(píng)定平面度誤差值。這種測(cè)量方法可直接得到線值結(jié)果,因此也叫線差法。屬于這類測(cè)量方法的有刀口直尺或平尺的墊塞法,標(biāo)準(zhǔn)平板的打表法,激光準(zhǔn)直儀測(cè)量法。
間接測(cè)量法是利用水平儀或自準(zhǔn)直儀在被測(cè)平面若干個(gè)測(cè)量截面上,以節(jié)距法進(jìn)行測(cè)量,得到各被測(cè)瞇相對(duì)于測(cè)量基準(zhǔn)(水平面或光軸直線)的傾斜角度,在取得結(jié)果時(shí),將角值表示的量值換算為以線值表示的量值。這種方法以人義器中讀得的數(shù)值的角度值,因此也叫角差法。屬于這類方法的有水平儀法和自準(zhǔn)直儀法。